STマイクロエレクトロニクス スマートフォンの通話切断を防ぐ近接センサを発表

多種多様な電子機器に半導体を提供する世界的半導体メーカーのSTマイクロエレクトロニクス（NYSE: STM、以下ST）は、スマートフォンの柔軟性と使用感を高める独自のセンサ・システムを開発しました。3つの光学素子を小型の1パッケージに実装したVL6180は、STのFlightSense(TM)ファミリの最初の製品で、通話が突然切断される現象(1)を改善し、ユーザとスマートフォンの間に新しい革新的なインタラクションをもたらす、新しい光検出技術を使用しています。

VL6180は、画期的な近接測定技術を利用し、スマートフォンとユーザの距離を卓越した精度と信頼性で計算します。同センサは、対象物の色や表面に大きく左右される反射光量に基づき距離を推定するのではなく、光が最も近い対象物に届くまでの時間と反射光がセンサに戻るまでの時間を正確に計測します。このTime-of-Flight法（TOF法）は反射光量ではなく、光の往復時間のみを考慮します。

STのイメージング事業部ジェネラル・マネージャであるArnaud Laflaquiereは、次の様にコメントしています。「今回、スペースが極めて制約されるスマートフォンに搭載することができる小型デバイスでTOF技術が初めて利用できるようになりました。既存の近接センサよりも性能を向上させることができるこの飛躍的な技術進歩は、現行のスマートフォンを顔に近づけたときに通話切断される問題を解決し、ユーザと機器が関わる上で革新的な方法を可能にします。」

STが特許を有する新しいソリューションの特徴は、光パルスを送出する赤外線発光器、反射されたパルスを検出する超高速光検出器、およびパルスの放出から反射光の検出までの時間を正確に計測する電子回路です。

STの電子回路、光学、およびパッケージに関する専門技術を組み合わせたVL6180は、赤外線発光器とともに、堅牢なTOF測距センサと広範な動的周辺光センサ・ダイの両方を組み込んでいます。同製品は、即時使用可能なオール・イン・ワン・アーキテクチャにより、統合が容易で、モバイル機器メーカーは光学設計と機械設計の最適化に要する費用・時間を節約することができます。

STの新技術がスマートフォン市場にもたらすメリットは、通話切断の防止だけではありません。スマートフォンから手や各種対象物までの絶対距離を高い信頼性で計測する機能は、モバイル機器メーカーやアプリ開発者が使用できる新たなユーザ・インタラクションを可能にします。STは、スペイン・バルセロナで開催されるMobile World Congress（2月25日～28日）に出展します。STブース（第7ホールE110）では、近接センサの性能と複数の革新的なアプリのデモを行い、ワイヤレスおよびイメージング分野におけるST独自の優位性をご覧いただけます。

(1) 米国のスマートフォン利用者の35%は、週に1回以上の通話切断を経験しており、予期しない通話切断がその原因の一部となっています。（出典：http://pewinternet.org/Reports/2012/Mobile-phone-problems/Main-findings.aspx ）

STマイクロエレクトロニクスについて
STは、「センス & パワー、オートモーティブ製品」と「エンベデッド・プロセッシング　ソリューション」の多種多様なアプリケーションに半導体を提供する世界的な総合半導体メーカーです。エネルギー管理・省電力からデータ・セキュリティ、医療・ヘルスケアからスマート・コンスーマ機器まで、そして、家庭、自動車、オフィスおよび仕事や遊びの中など、人々の暮らしのあらゆるシーンにおいてSTの技術が活躍しています。STは、よりスマートな生活に向けた技術革新を通し、「life.augmented」の実現に取り組んでいます。2012年の売上は84.9億ドルでした。さらに詳しい情報はSTのウェブサイト（ http://www.st-japan.co.jp ）をご覧ください。

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